抗干擾型介質(zhì)損耗測(cè)試儀設(shè)備是一種專(zhuān)業(yè)的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）測(cè)量。儀器具有操作簡(jiǎn)單、無(wú)需數(shù)據(jù)換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗*力強(qiáng)、測(cè)試速度快等特點(diǎn)。 

工作原理

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ，Ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線(xiàn)路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路（Cx），如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線(xiàn)路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線(xiàn)路組成。測(cè)量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A／D轉(zhuǎn)換器組成。

抗干擾型介質(zhì)損耗測(cè)試儀設(shè)備技術(shù)指標(biāo)
1、工作電源：AC 220V±10%、50Hz±1Hz
2、高壓輸出：0.5kV～10kV  每隔0.1kV
             精    度：2%
             大電流：200mA
             容    量：2000VA
3、自激電源：AC 0V～50V/15A  
             45Hz/55Hz、55Hz/65Hz、47.5Hz/52.5Hz
4、分 辨 率：tgδ：0.001%
              Cx：0.001pF
5、精    度：△tgδ：±（讀數(shù)*1.0%+0.040%）              
              △Cx：±（讀數(shù)*1.0%+1.00PF）
6、測(cè)量范圍：tgδ：無(wú)限制
              Cx：15pF＜Cx＜300nF
                  10kV  Cx＜60 nF
                   5kV  Cx＜150nF
                   1kV  Cx＜300nF
         CVT測(cè)試：Cx＜300nF
7、CVT變比范圍：10～10000
8、CVT變比精度：0.1%
9、CVT變比分辨率：0.01
10、抗干擾原理：變頻法  
11、存儲(chǔ)器大?。?00組、支持U盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 
12、使用環(huán)境：-15℃～40℃、RH＜80%